芯片短路测试可以使用以下测试软件：

ATECLOUD-IC 智能云测试平台

由纳米软件提供，支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGBT及分立器件的全方位测试。

提供ns级高精度同步测试、人性化操作界面、无代码快速搭建测试工步、多工位高速并行测试等功能。

IC开短路测试软件

用于检查芯片引脚之间是否存在断路或短路。

包括open_short_to_VDD测试和open_short_to_VSS测试，测试原理简单，用于发现芯片封装时是否有missing bond wires或测试接触不良等问题。

电源管理芯片测试系统

专业自动化测试软件平台，可以实现快速测试和数据处理分析，帮助快速定位问题，指导电源管理芯片的设计与生产。

CP（chip probering）和FT（final test）测试系统

CP测试（wafer test）在芯片未封装之前进行，用于剔除有问题的芯片，节约封装成本。

这些测试软件各有优势，可以根据具体的测试需求和预算选择合适的工具。对于需要全面测试多种芯片类型的高精度测试，ATECLOUD-IC 智能云测试平台是一个很好的选择。对于快速发现和解决芯片引脚间的开短路问题，IC开短路测试软件和电源管理芯片测试系统更为适用。