TOPS是一款 全谱分析软件，具体信息如下：

软件名称：

Total Pattern Solution （TOPAS）

开发商：

德国Bruker公司

主要用途：

用于对X射线衍射（XRD）谱线和对样品晶体结构进行高级分析。

TOPAS的主要功能包括单峰拟合、全谱拟合、晶体结构指标化、全谱结构分解、未知粉末/单晶晶体结构求解、Rietveld结构精修、定量Rietveld分析等。该软件运用两个世纪以来关于X射线粉末衍射的主要分析方法和研究成果，通过精修实验条件参数、样品参数、X射线源参数、仪器参数等，用非线性最小二乘法，将个参数卷积计算出的X射线谱线跟实验测得的谱线进行拟合，给出拟合收敛后的各参数作为该实验条件下的实际参数。